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Wavefront Sensor 波前分析儀


Wavefront Sensor 波前分析儀

★ 應用領域:
1.雷射光束量測/雷射光路校準
2.光學波前扭曲修正/雷射焦點光斑優化
3.光學鏡片量測
4.眼科應用(人工水晶體/隱形眼鏡光學品質控制)
5.生物細胞影像
6.顯微影像應用

★ 產品特點:
● 採用QuadriWave Lateral Shearing Interferometry (QWLSI),技術遠優於傳統Shack-Hartmann及Hartmann量測法
● 提供高解析160x120量測點,最高可至400x300點
● 可直接測量發散光與準直光束
● 不需複雜光路校準程序、震動影響低
● 高動態範圍、可直接量測優點
● 波長範圍190nm~14um皆有適用機款供選擇


分析軟體介面

High resolution wavefront sensor

Lens, assembly & mirror testing

Complete characterization based on high resolution wavefront measurement

 
 
 

★ Phasics與它牌波前分析儀解析度比較:

★ 整合應用系統:


A. 提供鏡片品質分析系統


B. 依客戶需求訂製全套系統

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